中國能源網(wǎng)訊 中國 上海 2010年12月7日, UL攜手阿特拉斯共同舉辦的“光伏耐久性亞洲會(huì)議” 在上海世紀(jì)皇冠假日酒店隆重開幕。
在8日舉行的會(huì)議上,阿特拉斯材料測試技術(shù)公司環(huán)境老化科學(xué)領(lǐng)域高級(jí)顧問Allen Zielnik表示,雖然現(xiàn)在很多光伏產(chǎn)品已經(jīng)超過25年,但當(dāng)初的材料組織架構(gòu)和現(xiàn)在不同,現(xiàn)在很多新設(shè)計(jì),包括背板材料、無框設(shè)計(jì)等,做出來的硅片產(chǎn)品太陽能電池,更容易受到環(huán)境影響,而且過去用的是晶片硅技術(shù),不能直接用薄膜技術(shù),薄膜對(duì)濕度敏感,而且腐蝕性強(qiáng),雖然到現(xiàn)在硅技術(shù)方面總結(jié)出了很多經(jīng)驗(yàn),但并不能直接應(yīng)用于新產(chǎn)品上。新的應(yīng)用情況不同,設(shè)計(jì)不同,結(jié)果自然也不同。
Allen Zielnik認(rèn)為,光伏組件耐久性模擬測試的關(guān)鍵是如何更接近自然條件。如果把產(chǎn)品看作一個(gè)黑盒子,測試就是盡所能模擬自然條件,如果模擬的條件越自然,和戶外暴露的相關(guān)性就越高,因此要盡量靠近自然條件,不靠近自然條件的結(jié)果可能就會(huì)出現(xiàn)失真。
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